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成都DR数字射线检测

时间:2020-12-12 11:24:13来源:http://cd.qd-discovery.com/product659798.html

产品详情

射线检测技术是一种常规的无损检测方法,在工业上有着非常广泛的应用。作为产品质量检测的重要手段,经过百年的历史,已由简单的胶片和荧屏射线照相发展到了数字成像检测。就目前笔者单位采用的DR系统检测技术和射线胶片检测技术,来比较两种检测技术的优缺点、实用性和发展状况。

下面以数字射线中DR为例,简单的叙述一下采用DR检测过程中的步骤:

1. 根据检测技术要求,设计检测图像质量指标。其中包括对比度设计(即必须达到的像质计灵敏度);确定需要达到的不清晰度,即选用合适的DDA探测器,因为探测器的像素尺寸影响图像的空间分辨力(有的喜欢用分辨率,其实是一个性能指标),或者是图像不清晰度。

其中这第1步是三级人员的要求,一般人跳过就好。

2. 按三级人员确定的技术指标,选择成像板,射线机,图像处理软件和显示器(这也是DR检测的一个很大的优势,可以自己组建检测系统,好比自己买配件来组装电脑一样,只需要兼容即可)组建检测系统。

3. 对射线机进行训机(这个跟常规射线检测一样),然后对成像板进行暗场校准(因为DDA探测器中的每个电子元器件由于结构等不完全一致,存在本底噪声不同,暗场校准是为了让所有元器件达到一个比较均匀的水平)。

暗场校准后对成像板进行亮场(也叫增益)校准(好比相控阵超声波检测中,对探头晶片增益进行校准一样。同时这个亮场校准也决定了图像信噪比,当校准电压大大低于射线检测时采用的电压时,可能会出现信噪比饱和的情况,也就是检测的信噪比不够。此时需要重新亮场校准)。

最后对成像板坏像素进行校准(因为成像板是电子器件,可能随着使用时间的延长出现坏死,这样对成像结果不利。这个跟相控阵超声波检测中对探头阵元坏死情况进行查看一样,当坏死的器件达到一定程度时,就影响检测,这个时候可能需要更换成像板)

4. 按三级人员确定的透照技术进行射线检测,透照布置图如上图2所示。这里跟胶片法检测一样,唯一有区别的是探测器和工件可能不是紧贴的(胶片法中尽量紧贴)。

通常,DR射线检测也是需要曝光曲线的,与胶片法射线检测不同的是,DR的曝光曲线是曝光量和厚度,还有管电压在一定的信噪比(而胶片法里是黑度)下的关系曲线。按照给定的曝光曲线,调节管电压,管电流,积分时间和叠加帧数来进行曝光。

5. 采集图像,对图像进行分析处理(这个时候,你发现了采集图像后就直接进行评片了,这个跟胶片法不一样,胶片法中还需要对底片进行暗室处理,这里直接评片,省下了很多时间)。

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